میکروسکوپ الکترون عبوری – روبشی

                (Scanning Transmission Electron Microscope)

مدل میکروسکوپ : CM30                ساخت : شرکت فیلیپس هلند

توانایی دستگاه :

          انجام کارهای تحقیقاتی جهت مطالعات ساختاری انواع کانی ، شیشه ، سرامیک ، فلز ، مواد عایق ،

          مواد نیمه هادی ، انواع لایه نازک و نمونه های بیولوژیکی با هدف :

             1-  مطالعه ساختار میکروسکوپی  مواد پودری و فلزی

             2-  مطالعه ساختار کریستالی و بلور شناسی با استفاده از روش پراش الکترون

             3-  انداره گيري ابعاد و اندازه دانه ها در مقیاس نانو

             4-  تعیین آنالیز شیمیایی ( کمی و کیفی ) با دستگاه  EELS, PEELS, EDAX

             5-  میکروسکوپ با قدرت 300KV  ، بزرگ نمایی 1.4 میلیون مرتبه

                    و قدرت تفکیک 1.7  آنگستروم

             6- امکان عکس برداری دیجیتالی از نمونه با زمینه تاریک و روشن (Dark / bright field)

             7- امکان چرخش نمونه تا ° 45 ±

  دستگاه تهیه لایه نازک به روش بمباران الکترونی

      ( Ion Beam Machining  )

       از این دستگاه جهت آماده سازی نمونه های میکروسکوپ

       الکترونی عبوری – روبشی به روش بمباران الکترونی

       برای تهیه لایه نازک استفاده می شود .

ایمیل  واحد :  STEM@Par-e-tavous.com