دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس
(X-Ray Fluorescence Spectrometer)
مدل : PW 4110/00 Venus100 minilab ساخت : Philips Holland
طيف سنج فلورسانس اشعه ايکس يك روش آناليز دستگاهي است كه در آن از روش طيف نشري اشعه ايکس ، براي تجزيه لايه‌هاي سطحي استفاده مي‌شود. اين دستگاه توانايي انجام آناليز عنصري به صورت كمي نمونه‌هاي معدني مانند: نمونه‌هاي زمين‌شناسي ، کاني‌ها ، سنگ‌ها ، شيشه ، سيمان ، سراميک‌ها ، آلياژهاي فلزي و غيره را دارد. برانگيختگي نمونه در اثر تابش پرتو ايکس موجب انتقال الکتروني در لايه‌هاي مختلف اتم مي‌شود که هر انتقال الكتروني همراه با نشر يك خط طيفي پرتو x است. طول موج خطوط طيفي نشر شده مبناي تجزيه كيفي عناصر و شدت پرتوها متناسب با فراواني يا کميت عناصر موجود در نمونه است . يکسان بودن روش آماده‌سازي نمونه مورد مطالعه و نمونه استاندارد و يکنواخت و مسطح بودن سطح مورد آزمايش نقش مهمي در دقت و صحت نتايج حاصله دارد .
اين روش به‌عنوان مکمل مطالعات کاني‌شناسي و متالوگرافي کاربرد زيادي دارد که مي‌توان به موارد زير اشاره کرد :
شناسايي كمي عناصر در نمونه‌هاي سنگ، سفال و شيشه، خاكستر، خشت و …
تعیین آنالیز شیمیایی و درصد اکسیدهای CaO ، Na2O ،K2O ، TiO2 ، SiO2 ، Al2O3 ، Fe2O3 ، MgO در نمونه های مختلف معدنی از جمله انواع کلی ها ، فلدسپار ها ، سیلیس ها ، سنگهای آهکی و دولومیتی و …
دقت قابل اطمینان و اعتماد دستگاه برای اندازه گیری هر نمونه در استاندارد مربوطه تا 0.1 درصد می باشد .
ایمیل واحد : XRF@Par-e-tavous.com
دستگاه آماده سازی نمونه در فاز شیشه ( Perl’x )
مدل: M4 Fluxer ساخت : Canada CLAISSE
قابلیت دستگاه :
این دستگاه قادر است نمونه ها را در فاز شیشه ذوب و جهت آنالیز با دستگاه XRF ، آماده نماید
دستگاه پرس و قالب گیری نمونه (Mounting Press)
مدل : Simplimet 2 ساخت : Buehler England
قابلیت های دستگاه :
• آماده سازی نمونه های مورد آنالیز با دستگاه XRF
• آماده سازی نمونه های پودری جهت مطالعه و آنالیز با دستگاه SEM
