میکروسکوپ الکترون عبوری – روبشی
(Scanning Transmission Electron Microscope)
مدل میکروسکوپ : CM30 ساخت : شرکت فیلیپس هلند
توانایی دستگاه :
انجام کارهای تحقیقاتی جهت مطالعات ساختاری انواع کانی ، شیشه ، سرامیک ، فلز ، مواد عایق ،
مواد نیمه هادی ، انواع لایه نازک و نمونه های بیولوژیکی با هدف :
1- مطالعه ساختار میکروسکوپی مواد پودری و فلزی
2- مطالعه ساختار کریستالی و بلور شناسی با استفاده از روش پراش الکترون
3- انداره گيري ابعاد و اندازه دانه ها در مقیاس نانو
4- تعیین آنالیز شیمیایی ( کمی و کیفی ) با دستگاه EELS, PEELS, EDAX
5- میکروسکوپ با قدرت 300KV ، بزرگ نمایی 1.4 میلیون مرتبه
و قدرت تفکیک 1.7 آنگستروم
6- امکان عکس برداری دیجیتالی از نمونه با زمینه تاریک و روشن (Dark / bright field)
7- امکان چرخش نمونه تا ° 45 ±
—————————————————————————————————————————————————————————————————————————————-
دستگاه تهیه لایه نازک به روش بمباران الکترونی
( Ion Beam Machining )
از این دستگاه جهت آماده سازی نمونه های میکروسکوپ
الکترونی عبوری – روبشی به روش بمباران الکترونی
برای تهیه لایه نازک استفاده می شود .
ایمیل واحد : STEM@Par-e-tavous.com
